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X-ray元器件無(wú)損檢測(cè)失效分析：X-ray檢測(cè)是一種發(fā)展成熟的無(wú)損檢測(cè)方式，目前廣泛應(yīng)用在物料檢測(cè)（IQC）、失效分析（FA）、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。廣電計(jì)量可針對(duì)對(duì)金屬材料及零部件、電子元器件、電纜，裝具，塑料件等進(jìn)行X-ray無(wú)損檢測(cè)。

焊點(diǎn)質(zhì)量檢測(cè),專業(yè)元器件分析第三方：廣電計(jì)量擁完整的剪切力拉力試驗(yàn)設(shè)備、X射線透視（xray）試驗(yàn)設(shè)備，并擁有完整的染色測(cè)試方法經(jīng)驗(yàn)與豐富的分析人才，能夠高效準(zhǔn)確的提供焊點(diǎn)質(zhì)量檢測(cè)。

離子清潔度測(cè)試 專業(yè)元器件失效分析：離子清潔度通常是指線路板的離子清潔度，由于印刷線路板的各種材料在清洗工藝時(shí)造成離子殘留，會(huì)影響電子產(chǎn)品的功能性和可靠性。最常見(jiàn)的離子污染導(dǎo)致的問(wèn)題分別是表面腐蝕和結(jié)晶生長(zhǎng)，最終引起了短路，過(guò)多的電流通過(guò)連接器，造成電子產(chǎn)品的最終損壞。廣電計(jì)量能提供離子清潔度檢測(cè)。

錫須現(xiàn)象檢測(cè) 材料裝備失效分析：錫須是從元器件焊接點(diǎn)的錫鍍層表面生長(zhǎng)出來(lái)的一種細(xì)長(zhǎng)的錫單晶，錫須的存在可能導(dǎo)致電器短路、弧光放電，以及及光學(xué)器件損壞等危害。廣電計(jì)量擁有完整的錫須檢查試驗(yàn)設(shè)備，經(jīng)驗(yàn)豐富的分析人才，能夠高效準(zhǔn)確的提供錫須檢查測(cè)試服務(wù)。

X-ray無(wú)損檢測(cè),元器件失效根源分析是一種發(fā)展成熟的無(wú)損檢測(cè)方式，目前廣泛應(yīng)用在物料檢測(cè)（IQC）、失效分析（FA）、質(zhì)量控制(QC)、質(zhì)量保證及可靠性(QA/REL)、研發(fā)(R&D)等領(lǐng)域。廣電計(jì)量可針對(duì)對(duì)金屬材料及零部件、電子元器件、電纜，裝具，塑料件等進(jìn)行X-ray無(wú)損檢測(cè)。

廣電計(jì)量積累了大量氟油液態(tài)溫度沖擊認(rèn)證試驗(yàn)經(jīng)驗(yàn)，可開(kāi)展氟油介質(zhì)的液態(tài)溫沖試驗(yàn)，轉(zhuǎn)換時(shí)間不超過(guò)10s，溫度范圍為-70℃至150℃。能夠覆蓋JEDEC、MIL、GB等標(biāo)準(zhǔn)。

錫須是從元器件焊接點(diǎn)的錫鍍層表面生長(zhǎng)出來(lái)的一種細(xì)長(zhǎng)的錫單晶，錫須的存在可能導(dǎo)致電器短路、弧光放電，以及及光學(xué)器件損壞等危害。廣電計(jì)量錫須檢查,元器件及裝備失效分析服務(wù)擁有完整的錫須檢查試驗(yàn)設(shè)備，經(jīng)驗(yàn)豐富的分析人才，能夠高效準(zhǔn)確的提供錫須檢查測(cè)試服務(wù)。

離子清潔度通常是指線路板的離子清潔度，由于印刷線路板的各種材料在清洗工藝時(shí)造成離子殘留，會(huì)影響電子產(chǎn)品的功能性和可靠性。最常見(jiàn)的離子污染導(dǎo)致的問(wèn)題分別是表面腐蝕和結(jié)晶生長(zhǎng)，最終引起了短路，過(guò)多的電流通過(guò)連接器，造成電子產(chǎn)品的最終損壞。廣電計(jì)量能提供離子清潔度測(cè)試,裝備失效分析檢驗(yàn)服務(wù)。